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机译:控制折叠芯片连接中CU 下标x SN 下标Y金属间化合物的形成(C4)
Indu Aggarwal;
机译:密封剂,用于延长可塌陷芯片连接(C4)的疲劳寿命
机译:凸点金属化下可控崩塌芯片连接上自形成的反应阻挡层防止剥落
机译:可控崩塌芯片连接应用中铟铅合金的优化
机译:用于控制芯片塌陷连接(C4)应用的KGD生产
机译:热电迁移对倒装芯片无铅焊点中铜溶解和金属间化合物形成的影响
机译:基于咪唑鎓基离子液体中盐状金属间化合物的反应性和控制氧化还原反应
机译:老化后共晶锡铅倒装焊锡凸块中金属间化合物的形成和扩散路径的演变
机译:含金属间化合物的可控共晶体的变形与断裂。
机译:受控塌陷芯片连接(C4)结构和形成方法
机译:受控塌缩芯片连接(C4)的结构和形成方法
机译:对可控制的芯片连接(C4)集成电路封装进行未填充的过程线
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