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机译:严格电磁干扰下汉明单差校正码的有效性
Jonas Van Waes; Jonas Lannoo; Jens Vankeirsbilck; Andy Degraeve; Joan Peuteman; Dries Vanoost; Davy Pissoort; Jeroen Boydens;
机译:纠错措施对抗苛刻电磁干扰的恢复力:故障机制
机译:用汉明单纠错码的外部结构纠正两个(或更多)矢量符号错误
机译:运行长度受限代码,用于混合类型错误的单次错误检测和单次错误校正
机译:恶劣电磁干扰下汉明单纠错码的有效性
机译:位置不受约束的约束系统的最佳编码率:一种将纠错码与数字存储系统的调制码相结合的方法。
机译:单分子计数和可转移千兆位纠错条形码对随机分子标记错误的评估
机译:恢复误差校正码对苛刻电磁干扰:基于三次纠错码的故障消除
机译:与旋转单错误更正,双错误检测汉明码一起使用的错误更正系统
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