Measurement of wavelength-dependent radiation pressure from photon reflection and absorption due to thin film interference

机译：从光子反射和由于薄膜干扰引起的光子反射和吸收测量波长依赖性辐射压力

机译：在不同氧分压下沉积的射频磁控溅射HfO2薄膜的扩展X射线吸收精细结构测量

机译：冲击压缩聚合物薄膜的红外复合折射率测量和模拟反射模式红外吸收光谱

机译：薄半导体膜激光辐射两光透射（反射）的特性

机译：钯氢系统薄膜的压力浓度和耐压温度关系的测量

机译：测量由于薄膜干涉引起的光子反射和吸收的波长相关辐射压力

机译：聚吡咯薄膜中的电磁干扰屏蔽和辐射吸收

机译：反射干涉光谱法量化微量水分子对薄膜的吸附方法及其测量系统

机译：使用红外辐射测量具有特殊表面的薄膜的最小化波干干扰效应

机译：使用红外辐射将波干扰对具有镜面表面的薄膜的测量的影响降至最低