机译:用于高温MEMS热基传感器的P型3C-SiC纳米薄膜的热敏性能
机译:使用MEMS结构确定的3C-SiC(100)薄膜的力学性能和残余应力
机译:利用MEMS结构确定3C-SiC(111)薄膜的力学性能和残余应力
机译:使用MEMS结构测定的薄3C-SiC(111)膜的机械性能和残余应力
机译:电子应用硅上外延3C-SiC薄膜的生长和表征。
机译:基于P型SiC压阻效应的高温压力传感器电气连接稳定性研究
机译:用低压化学气相沉积种植的单晶P型3C-SiC(100)薄膜的压电厅效果
机译:siC衬底上生长的外延3C-siC,4H-siC和6H-siC薄膜缺陷的研究