首页> 外文OA文献 >Cross-shaped markers for the preparation of site-specific transmission electron microscopy lamellae using focused ion beam techniques

【2h】

Cross-shaped markers for the preparation of site-specific transmission electron microscopy lamellae using focused ion beam techniques

机译：使用聚焦离子束技术制备位点特异性透射电子显微镜薄片的交叉形标记

代理获取

本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务，本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文，但由于OA文献来源多样且变更频繁，仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况，如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

页面导航

著录项
引文网络
相似文献
相关主题

著录项

作者
T.J. OHanlon; A. Bao; F.C.-P. Massabuau; M.J. Kappers; R.A. Oliver;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 2020
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. 先进的电子断层扫描技术在材料科学中的发展--基于透射电子显微镜和扫描透射电子显微镜 [J] . 李茂华, 杨延清, 黄斌, 中国有色金属学报（英文版） . 2014,第010期
2. 先进的电子断层扫描技术在材料科学中的发展——基于透射电子显微镜和扫描透射电子显微镜 [J] . 李茂华, 杨延清, 黄斌, 中国有色金属学报：英文版 . 2014,第010期
3. Cross-shaped markers for the preparation of site-specific transmission electron microscopy lamellae using focused ion beam techniques [J] . Ultramicroscopy . 2020,第期

机译：使用聚焦离子束技术制备位点特异性透射电子显微镜薄片的交叉形标记
4. A New Marking Technique for the Site-Specific Target in Focused Ion Beam-Based Transmission Electron Microscopy Thin Foil Preparation [J] . Lee Sungho, Kang Jonghyuk, Yang Cheol-Woong Science of advanced materials . 2015,第8期

机译：基于聚焦离子束的透射电子显微镜薄箔制备中针对特定目标的新标记技术
5. Voids in Kesterites and the Influence of Lamellae Preparation by Focused Ion Beam for Transmission Electron Microscopy Analyses [J] . Ribeiro-Andrade Rodrigo, Sahayaraj Sylvester, Vermang Bart, Photovoltaics, IEEE Journal of . 2019,第2期

机译：透射电子显微镜分析中，钾长石中的空隙及其对聚焦离子束制备薄片的影响
6. Focused ion beam sample preparation, transmission electron microscopy and electron energy loss spectroscopy analysis of advanced CMOS silicon technology interconnections [C] . Pantel R., Auvert G., Institute of Electric and Electronic Engineer European Workshop on Materials for Advanced Metallization . 1998

机译：聚焦离子束样品制备，透射电子显微镜和电子能损光谱分析先进的CMOS硅技术互连
7. Development of Quantitative Techniques for Lithium Compounds for Next Generation Batteries with Focused Ion Beam Scanning Electron Microscopy [D] . Bessette, Stéphanie. 2019

机译：具有聚焦离子束扫描电子显微镜的下一代电池的锂化合物的定量技术的研制
8. Site-Specific Cryo-focused Ion Beam Sample Preparation Guided by 3D Correlative Microscopy [O] . Jan Arnold, Julia Mahamid, Vladan Lucic, 2016

机译：由3D相关显微镜引导的针对特定地点的低温聚焦离子束样品制备
9. Imaging the interphase of carbon fiber composites using transmission electron microscopy: Preparations by focused ion beam, ion beam etching, and ultramicrotomy [O] . Wu Qing, Li Min, Gu Yizhuo, 2015

机译：使用透射电子显微镜对碳纤维复合材料的相间进行成像：通过聚焦离子束，离子束蚀刻和超薄切片术进行制备

Cross-shaped markers for the preparation of site-specific transmission electron microscopy lamellae using focused ion beam techniques

著录项

引文网络

相似文献

相关主题

期刊订阅