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机译:水分扩散在沉积硅氧化物中的影响在亲水性表面直接粘合
J. Desomberg; F. Fournel; H. Moriceau; A. Roule; E. Barthel; F. Rieutord;
机译:水分扩散在沉积硅氧化物中对亲水性表面直接粘接的影响
机译:室温粘合硅在绝缘体晶片上,具有通过退火的沉积硅氧化层和表面活化粘合而形成的致密掩埋氧化物层
机译:紫外线表面曝光可实现低温亲水性硅直接键合
机译:氮化硅表面转化为氧化物以实现亲水键合
机译:低温下基于氧化硅的表面的纳米键合:通过分子动力学和键合表面形貌,亲和力和自由能表征的键合相模型
机译:水亚单层在亲水表面上的扩散
机译:混合氧化物系统失活和失活的直接证据:表面离析和地下扩散的影响
机译:亲水硅表面准疏水硅-硅晶片键合及界面键合氧化物的溶解
机译:使用亲水性硅表面的准疏水性Si-Si晶圆键合和界面键合氧化物的溶解
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