Characterization of GaAs/Si Interface Structure by X-Ray Diffraction

机译：X射线衍射对GaAs / Si接口结构的表征

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E. D. Specht; G. E. Ice; C. J. Peters; C. J. Sparks; N. Lucas; X.-M. Zhu; R. Moret; H. Morkoc;
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年度 1990
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