首页> 外文OA文献 >Development of Low Power Test Data Compression Techniques for Digital VLSI Circuits

【2h】

Development of Low Power Test Data Compression Techniques for Digital VLSI Circuits

机译：用于数字VLSI电路的低功耗测试数据压缩技术的开发

代理获取

本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务，本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文，但由于OA文献来源多样且变更频繁，仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况，如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

页面导航

著录项
引文网络
相似文献
相关主题

著录项

作者
Mr. Mohammad Iliyas; Mrs. Farha Anjum; Dr. Anil Kumar Sharma; Dr. R. Murali Prasad;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 2016
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. Two-stage low power test data compression for digital VLSI circuits [J] . Thilagavathi K., Sivanantham S. Computers and Electrical Engineering . 2018,第期

机译：数字VLSI电路的两级低功率测试数据压缩
2. Variable-to-Variable Run Length Encoding Technique for Testing Low Power VLSI Circuits [J] . Lakshmi K, Robert Theivadas J, Markk, Journal of Electrical & Electronic Systems . 2019,第1期

机译：用于测试低功耗VLSI电路的可变到可变游程长度编码技术
3. Analysis of Power Reduction Techniques used in Testing of VLSI Circuits [J] . Shaktisinh Karnubha Jadeja, Rajendra Patel, Jayesh Popat Journal of Electrical & Electronic Systems . 2015,第2期

机译：VLSI电路测试中使用的降功率技术分析
4. Multistage test data compression technique for VLSI circuits [C] . Anju Asokan, J.P. Anita International Conference on Advanced Communication Control and Computing Technologies . 2016

机译：用于VLSI电路的多级测试数据压缩技术
5. Low cost power and supply noise estimation and control in scan testing of VLSI circuits [D] . Jiang, Zhongwei 2010

机译：VLSI电路扫描测试中的低成本电源和电源噪声估计与控制
6. Resistive straight leg raise test resistive forward bend test and heel compression test: novel techniques in identifying secondary gain motives in low back pain cases [O] . Naresh Kumar, Sujith Indeewara Wijerathne, Wen Wei Julian Lim, 2012

机译：抵抗性直腿抬高测试抵抗性前弯测试和足跟压迫测试：在腰痛案例中识别继发增益动机的新技术
7. Low Power High Fault Coverage Test Techniques for Digital VLSI Circuits [O] . Abu Issa Abdallatif S 2009

机译：数字VLsI电路的低功耗高故障覆盖测试技术
8. Generalized Data Compression Techniques for Testable Design of VLSI [R] . Venkatraman, C. S. 1988

机译：VLsI可测试设计的广义数据压缩技术

Development of Low Power Test Data Compression Techniques for Digital VLSI Circuits

著录项

引文网络

相似文献

相关主题

期刊订阅