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New Radiation-Hardened Design of a CMOS Instrumentation Amplifier and its Tolerant Characteristic Analysis

机译：CMOS仪表放大器的新辐射硬化设计及其耐受性特性分析

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作者
Minwoong Lee; Seongik Cho; Namho Lee; Jongyeol Kim;
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作者单位

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年度 2020
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