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【2h】

A Simple High-Resolution Near-Field Probe for Microwave Non-Destructive Test and Imaging

机译：一种简单的高分辨率近场探头，用于微波无损检测和成像

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Zipeng Xie; Yongjie Li; Liguo Sun; Wentao Wu; Rui Cao; Xiaohui Tao;
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年度 2020
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1. High-Resolution Microwave Near-Field Surface Imaging Using Resonance Probes [J] . Malyuskin Oleksandr, Fusco Vincent F. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on . 2016,第1期

机译：使用共振探头的高分辨率微波近场表面成像
2. Detecting defects in outdoor non-ceramic insulators using near-field microwave non-destructive testing [J] . Qaddoumi Nasser, El-Hag Ayman H., Hosani Mohamed Al, Dielectrics and Electrical Insulation, IEEE Transactions on . 2010,第2期

机译：使用近场微波无损检测检测室外非陶瓷绝缘子中的缺陷
3. Near-field microwave non-destructive testing for defect shape and material identification [J] . S. M. ALI, N. K. NIKOLOVA, N. T. SANGARY Nondestructive Testing and Evaluation . 2006,第2期

机译：缺陷形状和材料识别的近场微波无损检测
4. Non-destructive electrical characterization of low-k sidewall damage before metallization by a near-field scanned microwave probe [C] . Schwartz A.R., Talanov V.V., Scherz A., Interconnect Technology Conference, 2006 International . 2006

机译：通过近场扫描微波探针在金属化之前对低k侧壁损伤进行无损电学表征
5. Near-field imaging of microwave circuits with electromagnetic probes. [D] . Zhai, Ruifeng. 2004

机译：带有电磁探头的微波电路的近场成像。
6. A Simple High-Resolution Near-Field Probe for Microwave Non-Destructive Test and Imaging [O] . Zipeng Xie, Yongjie Li, Liguo Sun, 2020

机译：用于微波无损检测和成像的简单高分辨率近场探头
7. The 2-D (Stereo) Probe: Design and preliminary tests of a new airborne, high-speed, high-resolution, particle imaging probe [O] . Lawson R. Paul, O’Connor Darren, Zmarzly Patrick, 2006

机译：2-D（立体声）探头：新型机载，高速，高分辨率，粒子成像探头的设计和初步测试

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