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【2h】

Modeling the acceleration field and objective lens for an aberration corrected photoemission electron microscope

机译：模拟加速度和物镜的像差校正光曝光电子显微镜

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J. Feng; H. Padmore; D. H. Wei; S. Anders; Y. Wu; A. Scholl; D. Robin;
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年度 2002
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1. An x-ray photoemission electron microscope using an electron mirror aberration corrector for the study of complex materials [J] . Feng J, Forest E, MacDowell AA, Journal of Physics. Condensed Matter . 2005,第16期

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