机译:用扫描探针显微镜表征铜后CMP表面:第二部分:用扫描开尔文探针力显微镜测量表面电势
机译:技巧—开尔文探针力显微镜中的样品相互作用:局部表面电位的定量测量
机译:通过开尔文探针显微镜通过雾化沉积来测量n型有机半导体薄膜的表面电势
机译:局部工作函数测量各种无机材料,使用Kelvin探针力谱
机译:在固-液和固-气界面的应用实验表面化学:在单层和复合碱和碱土金属(钾改性氧化镁)膜上二氧化碳吸附的超高压研究,并利用Zeta电位探测矿物表面的表面反应动力学和平衡在液体介质中:测量,建模和参数估计。
机译:使用开尔文探针力显微镜的细菌表面电位测量
机译:Kelvin探针力显微镜的有机薄膜晶体管的表面电位测量