机译：二氧化硅薄膜点缺陷的一种新检测方法
机译：沉积方法对PECVD低k碳掺杂二氧化硅介电薄膜介电击穿强度的影响
机译：热激电流和最大熵方法检测氮化/再氧化二氧化硅膜中氮相关的陷阱
机译：不同金属栅极法表征超薄二氧化硅薄膜中的隧道电流
机译：砷注入的p型硅上非常薄的二氧化硅膜中的新型局部缺陷
机译：氧化锶铁/二氧化硅/硅和氧化锶铁/氧化铝薄膜系统的热稳定性：透射电子显微镜研究薄膜系统的界面结构和氧化锶铁/氧化铝的电导传感响应。
机译：Nd含量对富硅二氧化硅薄膜结构和光致发光性能的影响
机译：采用恒定光电流方法，用于研究硅薄膜缺陷
机译：硅上薄二氧化硅薄膜的测量与建模
