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【2h】

Thermal Annealing of Radiation Induced Defects: A Diffusion-Limited Process?

机译：辐射诱导缺陷的热退火：扩散限制过程？

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作者
D. B. Brown; D. I. Ma; C. M. Dozier; M. C. Peckerar;
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年度 1983
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1. 热退火对超冶金级硅中缺陷的影响 [J] . 吴洪军, 马文会, 陈秀华, 中国有色金属学报（英文版） . 2011,第006期
2. Analysis of recovery process of low-dose neutron irradiation-induced defects in silicon nitride-based ceramics by thermal annealing [J] . Rueanngoen Areerak, Kanazawa Koumei, Imai Masamitsu, Journal of Nuclear Materials: Materials Aspects of Fission and Fusion . 2014,第1a3期

机译：热退火分析低剂量中子辐照引起的氮化硅基陶瓷缺陷的恢复过程
3. Analysis of recovery process of neutron-irradiation-induced defects in alpha-SiC by isothermal annealing up to 1400 degrees C [J] . Yamazaki S, Yamaya K, Imai M, Journal of Nuclear Materials: Materials Aspects of Fission and Fusion . 2007,第1期

机译：1400℃以下等温退火对α-SiC中中子辐照缺陷恢复过程的分析
4. Transient thermal process induced by swift heavy ions: Defect annealing and defect creation in Fe and Ni [J] . C.Dufour, Z.G.Wang Bulletin of Materials Science . 1999,第3期

机译：快速重离子诱导的瞬态热过程：Fe和Ni中的缺陷退火和缺陷产生
5. Thermally Stimulated Ionic And Electronic Processes And Radiation-Induced Defect Annealing in LiBaF_3Crystals [C] . V.Ziraps, P.Kulis, I.Tale, NATO advanced research workshop on defects and surface-induced effects in advanced perovskites . 2000

机译：在Libaf_3crystals中热刺激的离子和电子过程和辐射诱导的缺陷退火
6. The effect of electric fields on the formation and annealing of stable radiation induced defects in indium phosphide semiconductor junctions. [D] . Panunto, Michael John. 1996

机译：电场对磷化铟半导体结中稳定的辐射诱导缺陷的形成和退火的影响。
7. Visible emission from Ce-doped ZnO nanorods grown by hydrothermal method without a post thermal annealing process [O] . Yong-Il Jung, Bum-Young Noh, Young-Seok Lee, 2012

机译：通过水热法生长的Ce掺杂的ZnO纳米棒的可见发射无需后热退火过程
8. Radiation Defects and Thermal Donors Introduced in Silicon by Hydrogen and Helium Implantation and Subsequent Annealing [O] . Pavel Hazdra, Volodymyr Komarnitskyy 2015

机译：通过氢和氦注入以及随后的退火在硅中引入辐射缺陷和热供体
9. Computer Experiment Studies on Mechanisms for Irradiation Induced Defect Production and Annealing Processes. Final Report [R] . Beeler, J. R., Beeler, M. F. 1979

机译：辐照诱导缺陷产生和退火过程机理的计算机实验研究。总结报告

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