机译:III-V型半导体材料中由于界面台阶和多型性导致的结构缺陷:使用2H-AlN / 6H-SiC界面的高分辨率电子显微镜的案例研究
机译:奥氏体马氏体界面处从fcc到bcc的瞬态晶格的高分辨率电子显微镜观察
机译:高分辨率分析透射电子显微镜对现代材料进行先进的微结构诊断和界面分析
机译:GaP / Si界面的高分辨率扫描透射电镜研究
机译:低温电子显微镜对完整固液界面和反应材料的高分辨率研究
机译:高分辨率电子显微镜电子能损光谱X射线粉衍射和电子对分布函数的非晶二氧化硅纳米结构的微观结构研究
机译:GexSb2Te3 + x(x = 1,2,3)相变材料的高温晶体结构的电子衍射和高分辨率透射电镜
机译:fcc材料界面的高分辨率电子显微镜。