首页> 外文OA文献 >Analysis of a Lateral Grain Boundary for Reducing Performance Variations in Poly-Si 1T-DRAM

【2h】

Analysis of a Lateral Grain Boundary for Reducing Performance Variations in Poly-Si 1T-DRAM

机译：横向晶界降低Poly-Si 1T-DRAM的性能变化分析

代理获取

本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务，本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文，但由于OA文献来源多样且变更频繁，仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况，如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

页面导航

著录项
引文网络
相似文献
相关主题

著录项

作者
Songyi Yoo; Wookyung Sun; Hyungsoon Shin;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 2020
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. Variation of poly-Si grain structures under thermal annealing and its effect on the performance of TiN/Al_2O_3/Si_3N_4/SiO_2/poly-Si capacitors [J] . Hong Suk Bum, Park Ju Hyun, Lee Tae Ho, Applied Surface Science . 2019,第MAYa31期

机译：热退火条件下多晶硅晶粒结构的变化及其对TiN / Al_2O_3 / Si_3N_4 / SiO_2 / poly-Si电容器性能的影响
2. Statistical analyses of the influence of grain boundary variations in poly-Si TFTs [J] . Yoshiyuki Kitahara, Shigeyuki Takagi, Shuichi Toriyama, 電子情報通信学会技術研究報告. シリコン材料·デバイス. Silicon Devices and Materials . 2002,第346期

机译：多晶硅薄膜中晶界变化影响的统计分析
3. Statistical analyses of the influence of grain boundary variations in poly-Si TFTs [J] . Yoshiyuki Kitahara, Shigeyuki Takagi, Shuichi Toriyama, 電子情報通信学会技術研究報告. VLSI設計技術. VLSI Design Technologies . 2002,第344期

机译：多晶硅薄膜中晶界变化影响的统计分析
4. High performance poly-Si thin film transistor with one-dimensionally long Si grains using DLB continuous-wave laser lateral crystallization [C] . Yamano Masayuki, Kuroki Shin-Ichiro, Sato Tadashi, International Workshop on Active-Matrix Flatpanel Displays and Devices . 2013

机译：使用DLB连续波激光横向结晶的具有一维长Si晶粒的高性能多晶硅薄膜晶体管
5. Surface and Grain Boundary Scattering in Nanometric Copper Films: A Quantitative Analysis Including Intra-grain Boundaries [D] . Darbal, Amith Dattaraj 2011

机译：纳米铜膜中的表面和晶界散射：定量分析，包括晶粒界限
6. Analysis of a Lateral Grain Boundary for Reducing Performance Variations in Poly-Si 1T-DRAM [O] . Songyi Yoo, Wookyung Sun, Hyungsoon Shin 2020

机译：横向晶界降低Poly-Si 1T-DRAM的性能变化分析
7. Optimization Considerations for Short Channel Poly-Si 1T-DRAM [O] . Songyi Yoo, Woo-Kyung Sun, Hyungsoon Shin 2020

机译：短频道Poly-Si 1T-DRAM的优化考虑

Analysis of a Lateral Grain Boundary for Reducing Performance Variations in Poly-Si 1T-DRAM

著录项

引文网络

相似文献

相关主题

期刊订阅