首页> 外文OA文献 >Analysis of doping distribution in horizontal GaAs nanowires with axial p-n junction by the conductive atomic force microscopy

【2h】

Analysis of doping distribution in horizontal GaAs nanowires with axial p-n junction by the conductive atomic force microscopy

机译：通过导电原子力显微镜用轴向P-n结的水平GaAs纳米线掺杂分布分析

代理获取

本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务，本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文，但由于OA文献来源多样且变更频繁，仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况，如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

页面导航

著录项
引文网络
相似文献
相关主题

著录项

作者
B R Borodin; P A Alekseev; M S Dunaevskiy; V Khayrudinov; H Lipsanen;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 2019
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. Photocurrent Mapping in High-Efficiency Radial p-n Junction Silicon Nanowire Solar Cells Using Atomic Force Microscopy [J] . Jih-Shang Hwang, Ming-Chun Kao, Jian-Min Shiu The journal of physical chemistry, C. Nanomaterials and interfaces . 2011,第44期

机译：使用原子力显微镜在高效径向p-n结硅纳米线太阳能电池中的光电流映射
2. Conductivity and structure of ErAs nanoparticles embedded in GaAs pn junctions analyzed via conductive atomic force microscopy [J] . Park K. W. Applied Physics Letters . 2012,第23期

机译：通过导电原子力显微镜分析嵌入GaAs pn结中的ErAs纳米粒子的电导率和结构
3. Conductivity and structure of ErAs nanoparticles embedded in GaAs pn junctions analyzed via conductive atomic force microscopy [J] . K. W. Park, V. D. Dasika, H. P. Nair, Applied Physics Letters . 2012,第23期

机译：通过导电原子力显微镜分析嵌入GaAs pn结中的ErAs纳米粒子的电导率和结构
4. Analysis of doping distribution in horizontal GaAs nanowires with axial p-n junction by the conductive atomic force microscopy [C] . B R Borodin, P A Alekseev, M S Dunaevskiy, International School and Conference "Saint Petersburg OPEN" . 2020

机译：通过导电原子力显微镜轴向p-n结的水平GaAs纳米线掺杂分布分析
5. A Study of GaAs1-xSbx Axial Nanowires and PIN Junctions by Self Catalyzed Molecular Beam Epitaxy [D] . Ahmad, Estiak. 2017

机译：通过自催化分子束外延对GaAs1-XSBX轴向纳米线和销连接的研究
6. Conductive-probe atomic force microscopy characterization of silicon nanowire [O] . José Alvarez, Irène Ngo, Marie-Estelle Gueunier-Farret, 2011

机译：硅纳米线的导电探针原子力显微镜表征
7. Nanoscale current spreading analysis in solution-processed graphene oxide/silver nanowire transparent electrodes via conductive atomic force microscopy [O] . Shaw, JE, Perumal, A, Bradley, DDC, 2016

机译：溶液处理氧化石墨烯/银纳米线透明电极中的纳米级电流扩散分析，通过导电原子力显微镜进行

Analysis of doping distribution in horizontal GaAs nanowires with axial p-n junction by the conductive atomic force microscopy

著录项

引文网络

相似文献

相关主题

期刊订阅