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【2h】

A Versatile CMOS Transistor Array IC for the Statistical Characterization of Time-Zero Variability, RTN, BTI, and HCI

机译：多功能CMOS晶体管阵列IC，用于零零变异性，RTN，BTI和HCI的统计表征

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Javier Diaz-Fortuny; Javier Martin-Martinez; Rosana Rodriguez; Rafael Castro-Lopez; Elisenda Roca; Xavier Aragones; Enrique Barajas; Diego Mateo; Francisco V. Fernandez; Montserrat Nafria;
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年度 2019
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1. A Versatile CMOS Transistor Array IC for the Statistical Characterization of Time-Zero Variability, RTN, BTI, and HCI [J] . Diaz-Fortuny Javier, Martin-Martinez Javier, Rodriguez Rosana, IEEE Journal of Solid-State Circuits . 2019,第2期

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2. RTN and BTI in nanoscale MOSFETs: A comprehensive statistical simulation study [J] . Salvatore Maria Amoroso, Louis Gerrer, Stanislav Markov, Solid-State Electronics . 2013,第juna期

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