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【2h】

TEM Characterisation of Silicide Phase Formation in Ni-Based Ohmic Contacts to 4H n-SiC

机译：基于Ni的欧姆触点硅化物相形成的TEM表征到4H n-SiC

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Marek Wzorek; Andrzej Czerwinski; Andrian Kuchuk; Jacek Ratajczak; Anna Piotrowska; Jerzy Katcki;
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年度 2011
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