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机译:使用CNN深度学习网络检查和分类半导体晶片表面缺陷
Jong-Chih Chien; Ming-Tao Wu; Jiann-Der Lee;
机译:一种基于晶圆半导体表面缺陷检查的深卷积神经网络的新方法
机译:深度学习对半导体晶圆上颗粒缺陷的化学成分进行分类
机译:基于CNN的半导体制造缺陷分类转移学习方法
机译:半导体晶片表面:用深CNN自动缺陷分类
机译:使用卷积神经网络,表面贴装技术(SMT)的自动化缺陷检测和分类(AOI)缺陷
机译:CC产品表面基于深度学习的3D缺陷定量检测系统
机译:使用深卷积编码器解码器神经网络架构在半导体制造中的晶片缺陷模式的异常检测和分割
机译:使用深度学习/卷积神经网络对半导体加工计量图像进行分类,搜索和检索
机译:基于深度学习/卷积神经网络的半导体加工计量学图像的分类,搜索和检索
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