机译:NIST量化霍尔电阻的比较,以及通过可计算电容器实现的SI OHM
机译:通过比较量化的霍尔电阻和从NIST可计算电容器得出的欧姆来确定von Klitzing常数和精细结构常数
机译:基于ETL可计算电容器的量化霍尔电阻的SI值
机译:NIST量化霍尔电阻的比较,以及通过可计算电容器实现的SI欧姆
机译:用于合成孔径雷达的实时成像系统,使用带有VLSI实现的过程量化相关器。
机译:分析样品探针中的电容-屏蔽对交流量化霍尔电阻测量的影响
机译:模型测试以研究几何缺陷对NIST可计算电容器的影响