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【2h】

Defining Threshold Values of Encapsulant and Backsheet Adhesion for PV Module Reliability

机译：定义密封剂的阈值和用于光伏模块可靠性的密封剂和背板附着力

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作者
Nick Bosco; Joshua Eafanti; Sarah Kurtz; Jared Tracy; Reinhold Dauskardt;
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年度 2017
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2. Impact of Permeation Properties and Backsheet-Encapsulant Interactions on the Reliability of PV Modules [J] . CorneliaPeike, PhilipHülsmann, MatthiasBlüml, International Scholarly Research Notices . 2012,第4期

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3. Field-Aged Glass/Backsheet and Glass/Glass PV Modules: Encapsulant Degradation Comparison [J] . Patel Aesha Parimalbhai, Sinha Archana, Tamizhmani Govindasamy Photovoltaics, IEEE Journal of . 2020,第2期

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4. Defining Threshold Values of Encapsulant and Backsheet Adhesion for PV Module Reliability [C] . Nick Bosco, Joshua Eafanti, Sarah Kurtz, IEEE Photovoltaic Specialist Conference . 2017

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5. Combined UV-Temperature-humidity Accelerated Testing of PV Modules: Reliability of UV-cut and UV-pass EVA Encapsulants [D] . Arularasu, Pooja 2019

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6. Reflection Losses Analysis from Interspacing between the Cells in a Photovoltaic Module Using Novel Encapsulant Materials and Backsheets [O] . Asma Shamim, Muhammad Noman, Adnan Daud Khan 2019

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