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Quantitative thermal measurement by the use of scanning thermal microscope and resistive thermal probes

机译：通过使用扫描热显微镜和电阻热探针定量热测量

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作者
Jerzy Bodzenta; Anna Kaźmierczak-Bałata; Kurt Harris;
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年度 2020
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1. Quantitative thermal measurement by the use of scanning thermal microscope and resistive thermal probes [J] . Bodzenta Jerzy, Kazmierczak-Baata Anna, Harris Kurt Journal of Applied Physics . 2020,第3期

机译：通过使用扫描热显微镜和电阻式热探针进行定量热测量
2. Dynamical behavior of the scanning thermal microscope (SThM) thermal resistive probe studied using Si/SiGe microcoolers [J] . Y. Ezzahri, L.D. Patino Lopez, O. Chapuis, Superlattices and microstructures . 2005,第1期

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3. Frequency domain analysis of 3ω-scanning thermal microscope probe-Application to tip/surface thermal interface measurements in vacuum environment [J] . G. Pernot, A. Metjari, H. Chaynes, Journal of Applied Physics . 2021,第5期

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4. Quantitative Thermal Analysis of Solidification in a High-Temperature Laser-Scanning Confocal Microscope [C] . Dasith Liyanage, Suk-Chun Moon, Madeleine Du Toit, Advanced Real Time Imaging Symposium . 2019

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5. Analysis of non-contact and contact probe-to-sample thermal exchange for quantitative measurements of thin film and nanostructure thermal conductivity by the scanning hot probe method. [D] . Wilson, Adam A. 2017

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