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【2h】

Auxiliary optics for meV-resolved inelastic x-ray scattering at SPring-8: Microfocus, analyzer masks, Soller slit, soller screen, and beam position monitor

机译：Spring-8的MEV分辨无弹性X射线散射辅助光学器件：Microfocus，Analyzer Masks，Soller Slit，Soller屏幕和梁位置监视器

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Alfred Q. R. Baron; Daisuke Ishikawa; Hiroshi Fukui; Yoichi Nakajima;
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年度 2019
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1. New X-ray scattering-based beam position monitor for high power synchrotron radiation [J] . Peter Revesz, Alexander B. Temnykh, Alan K. Pauling Nuclear Instruments & Methods in Physics Research . 2010,第1a3期

机译：基于X射线散射的新型光束位置监控器，用于大功率同步加速器辐射
2. Auxiliary Optics for meV-Resolved Inelastic X-Ray Scattering at SPring-8: Microfocus, Analyzer Masks, Soller Slit, Soller Screen, and Beam Position Monitor [C] . Alfred Q.R. Baron, Daisuke Ishikawa, Hiroshi Fukui, International Conference on Synchrotron Radiation Instrumentation . 2019

机译：Spring-8的MEV分辨无弹性X射线散射辅助光学器件：Microfocus，Analyzer Masks，Soller Slit，Soller屏幕和梁位置监视器

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