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机译:软印花UV纳米压印光刻和设备应用规避策略的覆盖精度限制
P.J. Cegielski; J. Bolten; J.W. Kim; F. Schlachter; C. Nowak; T. Wahlbrink; A.L. Giesecke; M.C. Lemme;
机译:软印章UV纳米压印光刻的覆盖精度限制和器件应用的规避策略
机译:适用于晶圆级相机应用的高精度UV-纳米压印光刻分步重复主印章制造
机译:在环境大气中使用双层软印章进行大面积UV纳米压印光刻的连续压印性能
机译:纳米定位的集成软紫外线印刷光刻和纳米卷积机,用于精确定位印章到衬底
机译:纳米压印光刻和发光器件应用的大面积纳米仪的研究进展
机译:使用具有各种微/纳米比的印模进行的紫外线纳米压印光刻的抗蚀剂填充研究
机译:软紫外线印刷光刻及其应用
机译:使用小巧压花印章的UV纳米压印光刻工艺
机译:UV纳米压印光刻技术,采用小巧压印和选择性添加加压
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