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【2h】

Non-contact atomic force microscopy investigation of the (1 times; 1) and (radic;3 times; radic;3) phases on the Pb/Si(111) surface

机译：PB / Si（111）表面上的（1×1）和（1×1）和（√3×3）相的非接触原子力显微镜检查

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A. Ohiso; Y. Sugimoto; K. Mizuta; M. Abe; S. Morita;
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年度 2007
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1. Dynamic Force Microscopy Study on Si(111)√3×√3-Ag Using a Tuning Fork Atomic Force Microscope [J] . Manfred Lange, Dennis van V?rden, Rolf M?ller Transactions of the Japan Society for Computational Engineering and Science . 2011,第5期

机译：用音叉原子力显微镜对Si（111）√3×√3-Ag进行动态力显微镜研究
2. Growth Nature of InSb Channel Layer on Heteroepitaxial Films of InGaSb Layer on GaSb/Si(111)-√3 × √3-Ga Surface Phase [J] . Ahmed Ali Mohammad Monzur-Ul-Akhir, Masayuki Mori, Koichi Maezawa Transactions of the Japan Society for Computational Engineering and Science . 2018,第1期

机译：GaSb / Si（111）-√3×√3-Ga表面相上InGaSb层异质外延膜上InSb沟道层的生长特性
3. Energy Dissipation in Dynamic Force Spectroscopy of PTCDA on Ag-Si(111) √3×√3 [J] . Dennis van V?rden, Manfred Lange, Rolf M?ller Transactions of the Japan Society for Computational Engineering and Science . 2011,第5期

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4. Effect of Development Process Time on the Surface of Photo-Resist with Various Chemical Compositions Investigated by Atomic Force Microscopy [C] . Chang Hyun Ko, Seok-Hwan Oh, Jae-Hwan Kim, Advances in Resist Technology and Processing XVIII . 2001

机译：原子力显微镜研究显影时间对各种化学成分光致抗蚀剂表面的影响
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机译：使用飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）和原子力显微镜（AFM）表征聚合物表面。
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机译：时滞原子力显微镜研究Au（111）上111-三（巯基甲基）十七烷的表面组装和纳米加工
7. Surface assembly and nanofabrication of 1,1,1-tris(mercaptomethyl)heptadecane on Au(111) studied with time-lapse atomic force microscopy [O] . Tian Tian, Burapol Singhana, Lauren E. Englade-Franklin, 2014

机译：采用延时原子力显微镜研究了au（111）上1,1,1-三（巯基甲基）十七烷的表面组装和纳米加工
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机译：衬底温度对（si）（111）表面上的（（自由基）（ovr 3）（次）（自由基）（ovr 3））R30（度）畴生长的影响。

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