机译:LM124双极集成电路位移损伤的非典型效果
机译:双极线性集成电路中的位移损坏
机译:脉冲X射线环境下LM124双极线性电路响应现象的研究与分析
机译:中子引起的位移损伤
机译:第十五部分集成电路—双极集成电路
机译:基于N沟道InGaAsP-InP的倒置通道技术器件(ICT)的设计,制造和表征,用于光电集成电路(OEIC):双异质结光电开关(DOES),异质结场效应晶体管(HFET),双极倒置沟道场-效应晶体管(BICFET)和双极型反向沟道光电晶体管(BICPT)。
机译:带有片上针孔的集成电路角位移传感器
机译:使用公共信息和免费开源工具在双极性模拟集成电路中进行单事件瞬态的SPICE仿真
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