On-chip Standard Cell Delay Verification Techniques

机译：片上标准电池延迟验证技术

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A.V. Kobylyatskiy; D.K. Sergeev;
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年度 2018
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1. On-Chip Measurement System for Within-Die Delay Variation of Individual Standard Cells in 65-nm CMOS [J] . Zhang X., Ishida K., Fuketa H., Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE Transactions on . 2012,第10期

机译：片内测量系统，用于在65 nm CMOS中单个标准单元的片内延迟变化
2. An On-Chip Delay Measurement Technique for Small-Delay Defect Detection Using Signature Registers [J] . RAJESHWARI SOMA, ZULEKHA TABASSUM, S.PRATHAP International journal of computer science and network security . 2014,第9期

机译：使用签名寄存器的小延迟缺陷检测的片上延迟测量技术
3. An On-Chip Delay Measurement Technique Using Signature Registers for Small-Delay Defect Detection [J] . Katoh K. Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE Transactions on . 2012,第5期

机译：使用签名寄存器进行小延迟缺陷检测的片上延迟测量技术
4. An on-chip characterizing system for within-die delay variation measurement of individual standard cells in 65-nm CMOS [C] . Xin Zhang, Ishida K., Takamiya M., 2011 16th Asia and South Pacific Design Automation Conference . 2011

机译：片上表征系统，用于在65 nm CMOS中测量单个标准单元的晶粒内延迟变化
5. Distributed decap-padded standard cell based on-chip voltage drop compensation framework. [D] . Johari, Pritesh. 2009

机译：基于片上压降补偿框架的分布式去盖填充标准单元。
6. Automatic retrieval of single microchimeric cells and verification of identity by on-chip multiplex PCR [O] . Thomas Kroneis, Liat Gutstein-Abo, Kristina Kofler, 2010

机译：自动检索单个微嵌合细胞并通过芯片上多重PCR验证身份
7. An On-Chip Characterizing System for Within-Die Delay Variation Measurement of Individual Standard Cells in 65-nm CMOS [O] . 2015

机译：一种用于65nm CmOs单个标准单元内部延迟变化测量的片上特征分析系统
8. Fast On-Chip Delay Estimation for Cell-Based Emitter Coupled Logic [R] . O'Brien, P. R., Wyatt, J. L., Savarino, T. L., 1988

机译：基于单元的发射极耦合逻辑的快速片上延迟估计

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