首页> 外文OA文献 >Anomalous Source-Side Degradation of InAlN/GaN HEMTs Under High-Power Electrical Stress

【2h】

Anomalous Source-Side Degradation of InAlN/GaN HEMTs Under High-Power Electrical Stress

机译：高功率电应力下Inaln / GaN Hemts的异常源侧劣化

代理获取

本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务，本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文，但由于OA文献来源多样且变更频繁，仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况，如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

页面导航

著录项
引文网络
相似文献
相关主题

著录项

作者
Yufei Wu; W. A. Sasangka; Jesus A. del Alamo;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 2017
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. Electrical Degradation of InAlN/GaN HEMTs Operating Under ON Conditions [J] . Yufei Wu, Jesús A. del Alamo IEEE Transactions on Electron Devices . 2016,第9期

机译：在开启条件下运行的InAlN / GaN HEMT的电降解
2. InAlN/GaN HEMTs based L-band high-power packaged amplifiers [J] . OLIVIER JARDEL, JEAN-CLAUDE JACQUET, LENY BACZKOWSKI, International Journal of Microwave and Wireless Technologies . 2014,第6期

机译：基于InAlN / GaN HEMT的L波段大功率封装放大器
3. Activation energy of drain-current degradation in GaN HEMTs under high-power DC stress [J] . Yufei Wu, Chia-Yu Chen, Jesus A. del Alamo Microelectronics & Reliability . 2014,第12期

机译：高功率直流应力下GaN HEMT中漏极电流退化的激活能
4. Early stage degradation of InAlN/GaN HEMTs during electrical stress [C] . Tapajna M., Gregusova D., Cico K., The Ninth International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. . 2012

机译：InAlN / GaN HEMT在电应力作用下的早期降解
5. Modeling and Characterization of High-power Electronic Devices: System Analysis of Laser Diodes with Flash Boiling and GaN HEMT Reliability Modeling [D] . Schlenker, Evan L. 2018

机译：高功率电子设备的建模与鉴定：闪光沸腾和GAN HEMT可靠性造型激光二极管的系统分析
6. The Influence of the Different Repair Methods on the Electrical Properties of the Normally off p-GaN HEMT [O] . Di Niu, Quan Wang, Wei Li, 2021

机译：不同修复方法对常关P-GaN HEMT电性能的影响
7. Design and Analysis of AlGaN/InGaN/GaN and InAlN/InGaN/GaN HEMTs for High-Power Wide Bandwidth Applications [O] . REVATHY A, C.S. Boopathi, D. Nirmal 2021

机译：Algan / Ingan / GaN和Inaln / Ingan / GaN HEMTS的设计与分析，高功率宽带宽应用

Anomalous Source-Side Degradation of InAlN/GaN HEMTs Under High-Power Electrical Stress

著录项

引文网络

相似文献

相关主题

期刊订阅