首页> 外文OA文献 >Transmission Electron Microscopy Sample Preparation of Ge2Sb2Te5 Nanowire Using Electron Beam

【2h】

Transmission Electron Microscopy Sample Preparation of Ge2Sb2Te5 Nanowire Using Electron Beam

机译：使用电子束的透射电子显微镜样品制备GE2SB2Te5纳米线

代理获取

本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务，本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文，但由于OA文献来源多样且变更频繁，仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况，如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

页面导航

著录项
引文网络
相似文献
相关主题

著录项

作者
Hee-Sun Lee; Jun-Young Lee; Jong-Souk Yeo;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 2015
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. Sample preparation by focused ion beam micromachining for transmission electron microscopy imaging in front-view [J] . Michael Jublot, Michael Texier Micron: The international research and review journal for microscopy . 2014,第Null期

机译：聚焦离子束微加工制备样品，用于透射电子显微镜成像的正视图
2. The Focused Ion Beam Fold-Out: Sample Preparation Method for Transmission Electron Microscopy [J] . Herman Carlo Floresca, Jangbae Jeon, Jinguo G. Wang, Microscopy and microanalysis: The official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada . 2009,第Null期

机译：聚焦离子束折叠：透射电子显微镜的样品制备方法
3. The Focused Ion Beam Fold-Out: Sample Preparation Method for Transmission Electron Microscopy [J] . Floresca HC, Jeon J, Wang JGG, Microscopy and microanalysis: The official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada . 2009,第6期

机译：聚焦离子束折叠：透射电子显微镜的样品制备方法
4. Focused ion beam sample preparation, transmission electron microscopy and electron energy loss spectroscopy analysis of advanced CMOS silicon technology interconnections [C] . Pantel R., Auvert G., Institute of Electric and Electronic Engineer European Workshop on Materials for Advanced Metallization . 1998

机译：聚焦离子束样品制备，透射电子显微镜和电子能损光谱分析先进的CMOS硅技术互连
5. Structural Investigation of Electron-beam Sensitive Zeolites and Metal-organic-frameworks Using Analytical Transmission Electron Microscopy [D] . Kumar, Prashant 2018

机译：电子束敏感沸石和金属有机骨架的结构分析-透射电子显微镜
6. Miniaturized Sample Preparation for Transmission Electron Microscopy [O] . Claudio Schmidli, Luca Rima, Stefan A. Arnold, 2018

机译：透射电子显微镜的小型化样品制备
7. Transmission Electron Microscopy Specimen Preparation for Two Dimensional Material Using Electron Beam Induced Deposition of a Protective Layer in the Focused Ion Beam Method [O] . Byeong-Seon An, Yeon Ju Shin, Jae-Seon Ju, 2018

机译：透射电子显微镜样品制备二维材料的使用电子束诱导在聚焦离子束法中沉积保护层
8. Sample Preparation of Nano-sized Inorganic Materials for Scanning Electron Microscopy or Transmission Electron Microscopy: Scientific Operating Procedure SOP-P-2. [R] . Weiss, J. C. A., Moser, R. D. 2015

机译：用于扫描电子显微镜或透射电子显微镜的纳米级无机材料的样品制备：科学操作程序sOp-p-2。

Transmission Electron Microscopy Sample Preparation of Ge2Sb2Te5 Nanowire Using Electron Beam

著录项

引文网络

相似文献

相关主题

期刊订阅