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Focused Electron Beam-Based 3D Nanoprinting for Scanning Probe Microscopy: A Review

机译：基于聚焦的电子束3D纳米罩用于扫描探针显微镜：综述

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Harald Plank; Robert Winkler; Christian H. Schwalb; Johanna Hütner; Jason D. Fowlkes; Philip D. Rack; Ivo Utke; Michael Huth;
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年度 2019
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