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【2h】

Heavy-Ion Microbeam Studies of Single-Event Leakage Current Mechanism in SiC VD-MOSFETs

机译：SIC VD-MOSFET中单事件漏电流机制的重离子微观研究

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C. Martinella; T. Ziemann; R. Stark; A. Tsibizov; K. O. Voss; R. G. Alia; Y. Kadi; U. Grossner; A. Javanainen;
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年度 2020
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