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机译:通过透射电子显微镜观察碳化硅中的重组增强位错滑动
Koji Maeda; Kunio Suzuki; Masaki Ichihara;
机译:透射电子显微镜观察到电子束辐照增强了砷化镓中的位错滑动
机译:观察到4H-碳化硅外延层中的螺纹位错对复合增强的部分位错滑移的影响
机译:电子辐射下4H-SiC中部分位错滑移的原位透射电镜
机译:重组增强位错滑移过程激活的基底堆积断层与4H碳化硅外延层中的螺纹位错之间的相互作用
机译:通过分析性位错模型和原位透射电子显微镜研究了摩擦学界面。
机译:碳化铬微晶须数据集:具有扫描和传输电子显微镜的形态
机译:硅杂交GaAs中重组增强位错滑动的直接观察
机译:碳化硅晶体的坑形成方法和使用相同方法制造碳化硅的方法,以及确定碳化硅晶体和碳化硅晶体表面的错位的方法
机译:碳化硅半导体晶片中的位错检测方法的制造方法以及碳化硅半导体器件
机译:碳化硅半导体晶片的位错检测方法及碳化硅半导体装置的制造方法
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