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【2h】

System-on-Chip Test Data Compression Based on Split-Data Variable Length (SDV) Code

机译：基于分割数据变量长度（SDV）代码的片上系统测试数据压缩

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J. Robert Theivadas; V. Ranganathan; J. Raja Paul Perinbam;
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年度 2016
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1. 片上系统测试数据压缩的优化型FDR编码机制 [J] . 张颖, 吴宁, 葛芬南京航空航天大学学报（英文版） . 2012,第001期
2. System-on-Chip Test Data Compression Based on Split-Data Variable Length (SDV) Code [J] . J. Robert Theivadas, V. Ranganathan, J. Raja Paul Perinbam Circuits and Systems . 2016,第8期

机译：基于拆分数据可变长度（SDV）代码的片上系统测试数据压缩
3. System-on-Chip Test Data Compression Based on Split-Data Variable Length (SDV) Code [J] . J. Robert Theivadas, V. Ranganathan, J. Raja Paul Perinbam Circuits and systems . 2016,第8期

机译：基于拆分数据可变长度（SDV）代码的片上系统测试数据压缩
4. Test data compression scheme based on variable-to-fixed-plus-variable-length coding [J] . Zhan WF, Liang HG, Shi F, Journal of systems architecture . 2007,第11期

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5. Test data compression based on Variable Prefix Dual-Run-Length Code [C] . Yu Yang, Yang Zhiming, Peng Xiyuan Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC), 2012 IEEE International . 2012

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6. Reducing test data volume for system-on-chip integrated circuits using test data compression and built-in self-test. [D] . Li, Lei. 2004

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