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【2h】

Temperature impact (up to 200 #x00B0;C) on performance and reliability of HfO2-based RRAMs

机译：HFO 2 基于RRAM的性能和可靠性的温度影响（最多200°C）

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T. Cabout; L. Perniola; V. Jousseaume; H. Grampeix; J.F. Nodin; A. Toffoli; M. Guillermet; E. Jalaguier; E. Vianello; G. Molas; G. Reimbold; B. De Salvo; T. Diokh; P. Candelier; O. Pirrotta; A. Padovani; L. Larcher; M. Bocquet; C. Muller;
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年度 2013
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