机译:(0.01Ni-PVA)中间层,接口疏水阀(DIT)和串联电阻(RS)在室温下Au / n-Si(MS)结构中的传导机构(CMS)的影响
机译:频率和电压相关的电气参数,接口陷阱和AU /(NIS:PVP)/ N-Si结构的串联电阻分布
机译:界面陷阱,串联电阻和(Ni掺杂的PVA)中间层对Al / p-Si(MS)结构中电特性的作用
机译:在大型反向偏置区域中提供线性度的C-V特性以及Au / n-Si / Ag二极管中串联电阻,表面状态和中间层的影响
机译:频率效应对Au / n-si / cupc / au,异质结构的筛选密度和串联电阻的频率影响研究
机译:纳米结构Au的催化活性:纳米多孔Au在低温CO氧化中的尺度效应与双金属/双功能效应
机译:主要传导机制及器件温度对al / Znpc / n-si结构电学特性的影响