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Kontinuierliche laterale Abtastung von Oberflächen durch axiale Regelung des Arbeitsabstandes in einem Nanokoordinatenmessgerät mit einem hochfrequent fokusabstandsmodulierten, fasergekoppelten, konfokalen Punktsensor / Lateral closed-loop scans of surfaces using a nano coordinate measuring system and a high-speed focal-distance modulated fibre-coupled confocal sensor

机译:通过轴向控制纳米室仪中的工作距离的轴向控制,具有高频焦点清除调制,光纤耦合,共焦点传感器/横向闭环扫描表面的纳米坐标测量系统和高 - 速度焦距调制光纤耦合共焦传感器

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