机译:快速系统测量晶圆600V的动态导通电阻,通常在硬开关应用条件下熄灭GaN Hemts
机译:快速系统测量晶圆600V的动态导通电阻,通常在硬开关应用条件下熄灭GaN Hemts
机译:用于电源开关应用的GaN-on-Si MIS-HEMT中的综合动态导通电阻评估
机译:在硬和软开关条件下通过双脉冲和多脉冲进行GaN功率器件的动态
机译:硬开关和软开关操作在半桥应用中GaN-HEMT的动态导通态电阻的测量
机译:Gan hemts和moshemts用于电源开关应用
机译:Si上In0.18Al0.82N / AlN / GaN MIS-HEMT(金属绝缘体半导体高电子迁移率晶体管)的陡峭开关
机译:用于电源开关应用的GaN-On-Si MIS-HEMTS的综合动态导通性评估
机译:si,GaN和alGaN / GaN高电子迁移率晶体管(HEmT)晶片的非接触迁移率,载流子密度和薄层电阻测量。