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Sub-Ångstrom Metrology of Resolution in Aberration-Corrected Transmission Electron Microscopes using the A-OK Standard Test Specimens

机译：使用A-OK标准测试标本的像差校正透射电子显微镜分辨率的亚Ångstrom测量

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Lawrence F. Allard; Michael A. OKeefe;
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年度 2004
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