机译:p-Si表面层中缺陷结构和位错发光中心的重构
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机译:具有应变层的硅结构中位错产生的机制:位错成核的本征点缺陷
机译:通过用170 keV或1 MeV电子辐照产生的n型和p型4H SiC外延层中的低温光致发光来测量缺陷中心的热历史
机译:脉冲激光辐照诱发的钼,镍和铋单晶表面缺陷结构的研究:LEED和单正氦离子通道(热应力,滑动,位移)表征。
机译:金属-Alq3-金属表面等离子体激元结构中Alq3有机层的颜色可调混合光致发光
机译:用铸造表面的铁氧体 - 珠光体结构疲劳强度评价(表面粗糙度,微观转变层,缺陷和疲劳强度缺陷和残余应力的影响)
机译:表面缺陷结构对ag(111)中pbmonolayers欠电位沉积的影响