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机译:NW-TFET直径对导通制度透视的效率和内在电压增益的影响
Caio C. M. Bordallo; Victor B. Sivieri; Joao Antonio Martino; Paula G. D. Agopian; Rita Rooyackers; Anne Vandooren; Eddy Simoen; Aaron Voon-Yew Thean; Cor Claeys;
机译:从传导机制的角度看,NW-TFET直径对效率和固有电压增益的影响
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