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Analysing SANS data to determine magnetisation reversal processes in composite perpendicular magnetic recording media using TEM images

机译:分析SAN数据以确定使用TEM图像的复合垂直磁记录介质中的磁化反转过程

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摘要

Perpendicular magnetic recording media based on CoCrPt-SiO x thin-films have been studied with polarised small angle neutron scattering (SANSPOL) to probe the local (sub-10nm) granular structure and its magnetisation distribution. SANSPOL is sensitive to the direction of the magnetisation vector in the grains over a size range of 1-100 nm. This allows the grain size dependent magnetic reversal process to be probed in the recording layer. SANSPOL data can be analysed both using numerical models and through comparison with the granular structure determined using transmission electron microscopy. In this paper we compare these two methods in detail and demonstrate that both approaches arrive at very similar conclusions. © 2011 Carl Hanser Verlag, Munich, Germany.
机译:基于CoCrPt类的SiO垂直磁性记录介质X薄薄膜进行了研究极化小角中子散射(SANSPOL)探测本地(子10纳米)的颗粒结构和它的磁化分布。 SANSPOL是在谷物上的为1-100nm的尺寸范围的磁化向量的方向敏感。这允许晶粒尺寸取决于磁性反转处理以在记录层中进行探测。 SANSPOL数据可以被分析既使用数值模型,并通过与所述粒状结构相比使用透射电子显微镜确定。在本文中,我们比较详细了这两种方法,并证明这两种方法在非常相似的结论。 ©2011卡尔Hanser出版社,慕尼黑,德国。

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