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【2h】

Double-Exposure Method with Synchrotron White X-ray for Stress Evaluation of Coarse-Grain Materials

机译：双曝光方法具有同步粗晶材料应力评估的同步X射线

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Kenji Suzuki; Ayumi Shiro; Hidenori Toyokawa; Choji Saji; Takahisa Shobu;
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年度 2020
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1. Double-Exposure Method with Synchrotron White X-ray for Stress Evaluation of Coarse-Grain Materials [J] . Kenji Suzuki, Ayumi Shiro, Hidenori Toyokawa, Quantum Beam Science . 2020,第3期

机译：双曝光方法具有同步粗晶材料应力评估的同步X射线
2. Synchrotron X-ray diffraction based method for stress intensity factor evaluation in the bulk of materials [J] . Lopez-Crespo P., Peralta J. V., Withers P. J. Theoretical and Applied Fracture Mechanics . 2018,第期

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3. High Space-Resolutive Evaluation of Subsurface Stress Distribution by Strain Scanning Method with Analyzer Using High-Energy Synchrotron X-Rays [J] . Takahisa SHOBU, Junichiro MIZUKI, Kenji SUZUKI, JSME International Journal. Series A, Solid mechanics and material engineering . 2006,第3期

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4. Stress Measurements of Coarse Grain Materials using Double Exposure Method with Hard Synchrotron X-Rays [C] . Kenji Suzuki, Takahisa Shobu, Ayumi Shiro European Conference on Residual Stresses . 2018

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5. Defect characterization and stress analysis by white beam synchrotron X-ray topography in single crystal semiconducting materials. [D] . Sarkar, Vishwanath. 2011

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7. Stress Measurements of Coarse Grain Materials using Double Exposure Method with Hard Synchrotron X-Rays [O] . 2018

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Double-Exposure Method with Synchrotron White X-ray for Stress Evaluation of Coarse-Grain Materials

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