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【2h】

>Scalable fabrication of single silicon vacancy defect arrays in silicon carbide using focused ion beam

机译：<强>使用聚焦离子束采用聚焦离子束的单芯空型缺陷阵列的单硅空位缺陷阵列

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Weibo Gao; Junfeng Wang;
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年度 2017
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