Identification of Grown-In Defects in CZ Silicon after Cu Decoration

机译：Cu装饰后CZ硅中成年缺陷的鉴定

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Kun-Lin Lin; Yi-Ling Jian; Che-Yu Lin; Chien-Cheng Lin; Yih-Rong Luo; Chien-Chia Tseng;
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年度 2017
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1. Identification of Grown-In Defects in CZ Silicon after Cu Decoration [J] . Kun-Lin Lin, Yi-Ling Jian, Che-Yu Lin, Microscopy Research . 2017,第2期

机译：Cu装饰后CZ硅中成年缺陷的鉴定
2. TEM observation of grown-in defects in CZ and epitaxial silicon wafers detected with optical shallow defect analyzer [J] . K. Minowa, K. Takeda, S. Tomimatsu, Journal of Crystal Growth . 2000,第1a3期

机译：用光学浅缺陷分析仪检测CZ和外延硅晶片中生长缺陷的TEM观察
3. Effect of the crystal-melt interface on the grown-in defects in silicon CZ growth [J] . Bok-Cheol Sim, Yo-Han Jung, Jai-Eun Lee, Journal of Crystal Growth . 2007,第1期

机译：晶体-熔体界面对硅CZ生长中生长缺陷的影响
4. Control of grown-in defects in nitrogen-doped CZ silicon crystal for new generation devices [C] . Masataka Hourai, Toshiaki Ono, Shigeru Umeno, Symposium on Crystalline defects and contamination: Their impact and control device manufacturing . 2001

机译：新一代器件中氮掺杂CZ硅晶体中成长缺陷的控制
5. Investigations into B-O defect formation-dissociation in CZ-silicon and their effect on solar cell performance. [D] . Basnyat, Prakash M. 2013

机译：研究CZ-硅中B-O缺陷的形成-解离及其对太阳能电池性能的影响。
6. Structural and electrical properties of oxygen complexes in Cz and FZ silicon crystals implanted with carbon ions [O] . Boris Romanyuk, Victor Melnik, Valentin Popov, 2014

机译：注入碳离子的Cz和FZ硅晶体中氧配合物的结构和电学性质
7. Effect of Grown-in Defects on the Structure of Oxygen Precipitates in Cz-Si Crystals with Different Diameter [O] . Litovchenko V. G. A, Lisovskyy I. P. B, Claeys C. C, 1050

机译：生长缺陷对不同直径Cz-si晶体中氧沉淀物结构的影响

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