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【2h】

Radiation tolerance tests of SRAM-based FPGAs for the potential usage in the readout electronics for the LHCb experiment

机译：基于SRAM的FPGA辐射耐受性，用于LHCB实验读出电子设备的潜在用途

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C Färber; U Uwer; D Wiedner; B Leverington; R Ekelhof;
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年度 2014
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