机译:在SEM和电子通道对比度成像中的原位宏观拉伸试验:铅笔滑行在散装β-Ti21s多晶中证明
机译:SEM和电子通道对比度成像中的原位宏观拉伸测试:块状β-Ti21S多晶中的铅笔滑行
机译:拉伸载荷下的原位电子通道对比度成像:残余应力,位错运动和滑线形成
机译:SEM从4H-SiC表面进行低能电子沟道对比成像及其与CDIC-OM和PL成像的比较
机译:使用Hitachi SU8000 FE-SEM比较电子通道对比度成像(ECCI)和电子背向散射衍射(EBSD)
机译:原位扫描电子显微镜(sem)观察Titanium-8Aluminum-1mo-1v(wt。%)合金的拉伸和拉伸蠕变变形。
机译:SEM和电子通道对比度成像中的原位宏观拉伸测试:块状β-Ti21S多晶中的铅笔滑行
机译:通过精确 - 电子通道对比度成像获得的建模脱位对比度,用于表征散装材料变形机制