机译:XRR数据的快速傅里叶变换和多高声拟合,以确定初始生长制度内ALD生长薄膜的厚度
机译:XRR数据的快速傅里叶变换和多高声拟合,以确定初始生长制度内ALD生长薄膜的厚度
机译:ALD在100℃和350℃之间生长的HfO_2薄膜的层生长速率,厚度均匀性,化学计量和氢杂质水平的相关性研究
机译:ALD生长的超薄CuO薄膜的厚度依赖性光学能隙反常
机译:使用基于二维傅立叶变换的结构化照明显微镜快速测量薄膜的厚度
机译:使用神经网络快速拟合生长薄膜的反射率数据
机译:通过傅立叶变换分析确定三层薄膜结构的厚度