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【2h】

Self-consistent scattering analysis of Al0.2Ga0.8N/AlN/GaN/AlN heterostructures grown on 6H-SiC substrates using photo-Hall effect measurements

机译：使用光霍尔效应测量在6H-SiC基材上生长的Al0.2Ga0.8N / AlN / AlN异质结构的自我一致散射分析

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S B Lisesivdin; E Arslan; M Kasap; S Ozcelik; E Ozbay;
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年度 2008
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