退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
机译:低k薄膜孔隙度计量X射线散射方法
C. M. Settens; V. K. Kamineni; G. A. Antonelli; A. Grill; A. C. Diebold; R. J. Matyi; Erik M. Secula; David G. Seiler; Rajinder P. Khosla; Dan Herr; C. Michael Garner; Robert McDonald; Alain C. Diebold;
机译:低k有机硅酸盐电介质薄膜中纳米孔演化的原位掠入射小角X射线研究
机译:X射线反射率,衍射和掠入射小角度X射线散射作为溶胶-凝胶氧化锆薄膜微结构研究的补充方法
机译:布里渊光散射法测定高孔隙率低k介电纳米薄膜的力学性能
机译:通过沉积方法和膜厚控制和设计PECVD碳掺杂低k二氧化硅薄膜的关键性能。
机译:掠入射时通过高能X射线快速全散射研究薄膜和超薄膜的局部原子结构
机译:原位放牧发病率小角X射线散射研究低-K有机硅酸盐介电薄膜纳米孔演化
机译:低k薄膜的制造方法及由其制得的低k薄膜
机译:低介电常数薄膜的制造方法及使用RTA的退火工艺后,由其制得的低介电常数薄膜
抱歉,该期刊暂不可订阅,敬请期待!
目前支持订阅全部北京大学中文核心(2020)期刊目录。